PCT加速老化試驗箱|HAST高溫高壓老化試驗箱-易升用心為客戶服務
一、產品簡介
PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間,用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
二、PCT加速老化試驗箱滿足標準
1. GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術條件。
2. GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗。
3. MIL-STD810D方法502.2。
4. GJB150.9-8溫濕試驗。
5. GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環試驗。
6. LEC60068-2-66試驗。
7. JESD22-A102-B試驗。
8. GB/T2423.40-1997試驗。
三、PCT加速老化試驗箱特點
1.PCT加速老化試驗箱采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。
2.PCT高壓加速老化測試箱采用指針顯示正負壓表;時間控制器采LED顯示器;自動水位控制器,水位不足時提供警示。
3.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計.。
4.圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.。
5.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續200h。
6.pct高壓加速老化機自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,精密安全門把設計,箱內有大于常壓時測試門會被反壓保護。
7.pct高壓加速老化機內壓力愈大時,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長壽命。
8.臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。
9.安全閥,當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。
10.pct高壓加速老化機一體成型硅膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長。
四、PCT加速老化試驗箱詳細參數
型 號 | ES-PCT - 25 | ES-PCT - 35 | ES-PCT - 45 | ES-PCT - 65 |
內部尺寸(W×H×D)mm | Φ250×L300 | Φ300×L450 | Φ450×L500 | Φ650×L600 |
外箱尺寸(W×H×D)mm | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
使用溫度 | 121℃;132℃;(143℃特殊選用) | |||
使用濕度 | 100%RH飽和蒸氣濕度 | |||
使用蒸氣壓力(絕對壓力) | 1個環境大氣壓 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2屬于特殊規格) | |||
循環方式 | 水蒸氣自然對流循環 | |||
安全保護裝置 | 缺水保護,超壓保護、 (具有自動/手動補水功能,自動瀉壓功能) | |||
配 件 | 不銹鋼隔板兩層 | |||
電 源 | AC220V,50/60Hz/AC380V , 50/60Hz |
注:
1. 在無試驗負荷、無層架情況下穩定30分鐘后測定的性能。
2. 關于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。
3. 溫濕度傳感器設置于空調箱出風口處。
4. 溫濕度均勻度定義為:實驗室幾何中心點處,溫濕度時的所測之資料。
5. 以上數據性能,測量,計算方法參照GB5170.2、GB5170.5的方法測定。